SR-NIR，分光辐射亮度计， TOPCON拓普康

TOPCON拓普康近红外分光辐射亮度计SR-NIR;

高精度测定**微弱近红外光

近年来，在显示器及照明市场上，对“近红外领域”的测定需求日渐增多。之前，行业内并没有一款能够简便且高精度测定近红外光的相关仪器。拓普康公司在通过开发生产SR系列分光辐射度计所培育并积累起来的技术基础之上，开发出了“SR-NIR近红外分光辐射度计”。本产品和其他型号的SR系列分光辐射度计一并使用，能够测定380nm-1030nm的分光辐射亮度。

 

TOPCON拓普康近红外分光辐射亮度计SR-NIR

特点：

●能测定从FPD到微弱发光的近红外领域。

●高精度测定近红外领域(600～1030nm)的分光分布。

●和本公司其他型号的分光辐射度计一并使用时，能够测定可见光～近红外光（380～1030nm）的分光分布。

用途：

●观察各类FPD的近红外领域的输出

●观察Ne、Ar的光谱线输出。

●光学膜等的近红外透过特性评价。

●其他光源的近红外分光测量。

 

TOPCON拓普康近红外分光辐射亮度计SR-NIR

规格：


光亮采集
 
电子冷却型线性阵列传感器
 

波长分散原理
 
衍射光栅
 

测定角
 
2°/1°/0.2°/0.1° (电动切换式)
 

较小测定直径(mmφ)
 
2°: 10.0, 1°: 4.99     0.2°: 1.00     0.1°: 0.50 (mmφ)
 

测定距离
 
350mm - ∞ (从物镜金属件前端开始的距离)
 

测定波长范围
 
600 - 1030nm
 

光谱波宽
 
6 - 8nm (半波宽)
 

波长分解
 
1nm
 

测定模式
 
自动/手动(积分时间/频率) 、外部垂直同步信号输入
 

测定内容
 
分光辐射亮度 : W?sr-1?m-2?nm-1 
 

亮度测定范围(*1)
 
2.0° : 0.5 - 3,000,  1.0° : 1 - 9,000
 0.2° : 20 - 70,000,  0.1° : 100 - 300,000
 

重复精度(*2) 
 
±2% 以下
 

偏光特性
 
分光辐射亮度　5％ 以下
 

校正基准
 
本公司校正基准*标准A光源、23℃±3℃、65% RH以下
 

测定时间(*3) 
 
约 1 - 31 秒
 

界面
 
RS-232C,USB2.0
 

电源
 
**AC电源适配器 AC100V-240V, 50/60Hz
 

功率
 
约34W
 

使用条件
 
温度: 5 - 30℃, 湿度: 80%RH 以下 (且无凝露)
 

外形尺寸 (W×D×H)
 
150×406×239mm
 

质量
 
5.5kg